Печатные платы с контролем волнового сопротивления
Конфигурация проводника (фактор травления)
Простые калькуляторы не позволяют учитывать реальную конфигурацию проводника. При нашей полуаддитивной технологии, при формировании рисунка мы сначала дополнительно осаждаем гальваническую медь на рисунок по фоторезисту, а затем, для получения окончательного рисунка травим по металлорезисту. При травлении (удалении лишней меди) процесс сначала протекает «вертикально», а затем развивается и «горизонтально», в результате чего срез проводника отклоняется от прямоугольника в сторону трапеции. На шлифах на фото видно, что в реальности происходит с проводниками.
Степень бокового подтравливания определяется фактором травления.
Приведенные в таблице значения иллюстрируют, почему в процессе изготовления расчетное значение импедансов может быть ухудшено.
Толщина шлифа | 27/254 мкм | 157/300 мкм |
Толщина меди в отверстиях | 46 | 38 |
Толщина “Затяжки” | 6 | - |
Высота проводника | 94 | 60 |
Ширина проводник/зазор (75-75)/)100-100) | 84/66 | 108/92 |
Ширина проводник/зазор (127-127)/(150-150) | 127/127 | 157/143 |
Ширина проводник/зазор(250-250) | - | 258/242 |
Точность сверления | 30 | 32,5 |
Толщина меди внутренних слоев | 18 | 17 |
Высота маски над проводником | 21 | 18 |
Параметры проявления маски | 89 | 35 |
Параметры проявления фоторезиста | 12 | 2 |
Толщина никеля | 8 | - |
Боковой подтрав | 16 | 15 |
Фактор травления | 5,9 | 4 |